薄膜自動測厚儀是一種用于精確測量薄膜材料厚度的專業儀器，廣泛應用于電子、包裝、醫療、汽車、建筑等多個行業。
薄膜自動測厚儀主要基于電磁學、超聲波和光學等技術原理來實現膜厚的精確測量，具體可分為接觸式和非接觸式兩大類：
接觸式：
機械接觸式：通過機械方式實現薄膜厚度測量，主要結構包括感應頭(壓力傳感器)、觸點系統、指示器等部分。當感應頭接觸到薄膜表面時，由于薄膜的彈性變形，會使感應頭的壓力發生變化，從而使觸點系統的電路閉合或斷開。通過測量電路的開關時間和對應的電壓信號，可以計算出薄膜的厚度。
非接觸式：
光學式：利用光學折射原理實現薄膜厚度測量，主要結構包括光源、透鏡、反射鏡、光電探測器等部分。當光線照射到薄膜表面上時，一部分光透過薄膜，另一部分被反射回來。光電探測器接收到反射光線后，將其轉換為電信號輸出給控制系統進行處理。通過分析透射光和反射光的比例關系，可以計算出薄膜的厚度。
電磁式：通過檢測磁場或電場的變化來確定膜厚。當膜層覆蓋在金屬基底上時，膜層的存在會改變周圍電磁場的分布，儀器通過精確測量這種變化來推算膜厚。這種原理適用于金屬基底上的非金屬涂層測量，如鋼鐵表面的油漆、塑料涂層等。
超聲波式：利用超聲波在不同介質中的傳播速度和反射特性來測量膜厚。當超聲波遇到不同介質的界面時，會發生反射和折射，通過測量超聲波在膜層和基底中的傳播時間和反射強度，就可以計算出膜厚。這種技術適用于多種材料和復雜結構的測量，包括金屬、塑料、玻璃及陶瓷等非金屬基底上的涂層。
更新時間：2025-10-24
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